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  • 粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置

粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置(SZ-100)

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ナノサイズのキャラクタリゼーションを解析する重要な3つの要素測定(ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定)を一台に集約しました。
ppmオーダの希薄系から数十%レベルの高濃度試料まで、そのままの状態でのサンプリング・測定が可能です。微小容量電気泳動セル 独自の開発により、わずか100μLサンプリングでのゼータ電位測定でき、コロイド粒子、機能性ナノ材料、高分子、ミセル、リポソーム、ナノカプセルなど幅広い応用分野に適合します。サンプリング後は測定開始ボタンを押すだけの使い易いシンプルなオペレーションです。

カテゴリ
用途 セラミックナノ粒子 金属ナノ粒子 カーボン 製薬 ウィルス 塗料・顔料 化粧品 ポリマー 食品 CMP

スペック

メーカ 株式会社堀場製作所
重量 25kg
寸法 385(D)×528(W)×273(H)mm(ただし、突起部は除く)
製品仕様 SZ-100-S
[測定原理]
粒子径測定:光子相関法
分子量測定:静的光散乱Debyeプロット法
[測定範囲]
粒子径:0.3nm~8μm(直径)
分子量:1000~2×10 7( Debyeプロット)
    540~2×10 7( MHS式) ※1
[測定時間]
通常約2分(粒子径測定時、測定開始から結果表示まで)
SZ-100-Z
[測定原理]
ゼータ電位測定:電気泳動レーザードップラー法
[測定範囲]
-200~+200mV
[測定時間]
通常約2分



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