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株式会社北浜製作所

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  • 走査型プローブ顕微鏡

大型ユニット AFM5400L

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試料サイズ8インチまで搭載可能な大型SPMです。アキュレートスキャナと低コヒーレント光学系の採用によりナノオーダーの形状をより正確に高い精度で計測します。また、白色干渉計を搭載できる複合化拡張機能を有し、広視野範囲から狭視野範囲までのシームレス観察を実現します。

カテゴリ
用途 半導体、マテリアルサイエンス、ライフサイエンス、新素材など

スペック

メーカ 株式会社日立ハイテク

製品資料はこちらからダウンロードいただけます。

重量

http://www.hitachi-hightech.com/jp/product_detail/?pn=em-afm5400l
(上記リンクの「仕様」をご参照ください。)

寸法

http://www.hitachi-hightech.com/jp/product_detail/?pn=em-afm5400l
(上記リンクの「仕様」をご参照ください。)

製品仕様

http://www.hitachi-hightech.com/jp/product_detail/?pn=em-afm5400l
(上記リンクの「仕様」をご参照ください。)

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