この度弊社では、㈱日立ハイテクと共同で、同社が扱う表面観察装置をテーマとする
WEBセミナーを開催の運びとなりました。

SEM・SPM から、日立が得意とする白色干渉顕微鏡、さらに新たに提唱する
SAEMic（セイミック/ SEM＋AFM 相関顕微鏡法）などを題材とし、
原理からアプリケーション事例までご紹介予定です。

オンラインでのセミナーですので、職場やテレワーク先からお気軽にご参加いただけます。
皆様のご参加をお待ちしております。


【セミナー概要】
　日　時：11月25日(水)　10:00～11:15　　　※お客様ログイン開始 9:45～

　形　式：WEBセミナー
　　　　　※Zoomにて開催いたします。
　　　　　　PCからはブラウザでご覧いただけますが、Zoomのアカウント登録（無料）が必要となります。
　　　　　　またスマホ・タブレットはアプリのインストールが必要ですので、ご注意ください。

　講演内容・スケジュール：
　（10:00-10:10）　　ご挨拶　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　（10:10-10:25）　　演目：電子顕微鏡（SEM)　～３Ｄソリューション～
　　　　　　　　 　　　内容：「電子顕微鏡を用いた3D形状観察と簡易計測システムのご紹介」
　（10:25‐10:30）　　質疑応答

　（10:30-10:45）　　演目：白色干渉顕微鏡（CSI)　～３Ｄソリューション～
　　　　　　　　　　　 内容：「広域・高精度・高速測定が可能なナノ3D光干渉計測システムのご紹介」
　（10:45-10:50）　　質疑応答

　（10:50‐11:05）　　演目：プローブ顕微鏡（SPM）＆電子顕微鏡（SEM）　～３Ｄソリューション～　　　
　　　　　　　　　　　 内容：「SEM＋AFM相関顕微鏡法（SAEMicセイミック）による3D計測」
　（11:05‐11:10）　　質疑応答

　（11:10‐11:15）　　閉会のご挨拶（アンケートご記入）


【お申込み方法】
本ページ下部「申込する」ボタンを選択ください。
お申込みフォームに移動しますので、必要事項をご記入の上お申し込みください。

後日、当日ご参加用リンクを記載した招待メールをお送りします。