この度、㈱日立ハイテクと共同で、各種表面分析装置を題材としたWEBセミナーを開催いたします。
セミナーでは、CSI・AFM・SEM・熱分析から、日立が提唱するSÆMic（セイミック/ SEM＋AFM 相関顕微鏡法）などをご紹介予定です。
この機会に是非ご参加をご検討ください。

セミナー概要

　日　時：7月21日(木)　13:30～15:30
　　　　　（受付開始:13:15）

　形　式：WEBセミナー
　　　　　※Zoomにて開催いたします。
　　　　　　PCからはアプリ・またはブラウザでご覧いただけます。（ブラウザはMS Edge、Google Chrome、Firefoxを推奨）
　　　　　　またスマホ・タブレットはアプリのインストールが必要ですので、ご注意ください。

　講演内容：①白色干渉顕微鏡（CSI）　※キーワード：層断面、ISO比較ツール、顕微鏡リンケージ
　　　　　　　広域・高精度・高速測定が可能なナノ3D光干渉計測システムによる3D計測・解析事例の紹介

　　　　　　②プローブ顕微鏡（AFM）　※キーワード：プリマウントカンチレバー、レシピ測定、物性高感度、SÆMic．
　　　　　　　高分解能3D計測ができるAFMのスループット向上と+αで注目される物性計測事例の紹介

　　　　　　③卓上顕微鏡（SEM）　※キーワード：不良解析、元素分析、前処理
　　　　　　　迅速・簡単に解析可能な卓上電子顕微鏡で何ができるかを品質管理視点から紹介

　　　　　　④熱分析　※キーワード：不良解析、リアルビュー、データ処理
　　　　　　　幅広い分野で材料評価を可能にする熱分析の測定手法と解析事例の紹介

お申込み方法

本ページ下部「申込する」ボタンを選択ください。
お申込みフォームに移動しますので、必要事項をご記入の上お申し込みください。
受付後、当日ご参加用リンクを記載した招待メールをお送りします。