メーカ
- メーカ一覧
-
-
ア
- 愛知時計電機株式会社
- ITWジャパン 株式会社 ブルックスインスツルメント
- 旭計器工業株式会社
- 株式会社アントンパール・ジャパン
- 飯島電子工業株式会社
- 株式会社上島製作所
- 英弘精機株式会社
- エイスインターナショナルトレード株式会社
- エッペンドルフ・ハイマック・テクノロジーズ株式会社
- エナジーサポート株式会社
- 株式会社エビデント
- MSサイエンティフィック株式会社 受託分析元:武田コロイドテクノ・コンサルティング株式会社
- MSサイエンティフィック株式会社 輸入元:LUM Japan株式会社
- MSサイエンティフィック株式会社 販売元:日本インテグリス株式会社
- 株式会社エムジー
- エレメンター・ジャパン株式会社
- 株式会社エー・アンド・デイ
- 大塚電子株式会社
- 株式会社岡崎製作所
- 株式会社オカムラ
- オリエンタル技研工業株式会社
- ヴァイサラ株式会社
-
カ
-
サ
-
タ
-
ナ
-
ハ
-
マ
-
ヤ
-
ラ
-
素材 製品一覧
-
全光束測定システム(HM/FM series)
-
光源・照明評価に関する国内外の規格・技術基準に沿った計測(IESNA LM-79、LM-80、LM-85およびCIE S025;2015に準拠)を可能にした全光束測定システムです。
大塚電子の全光束測定システムは、「積分半球(HalfMoon)を採用した全光束測定システム(HalfMoon) HMシリーズ」と「積分全球を採用した全光束測定システム(積分球) FMシリーズ」の2種類のシリーズを品揃え、幅広い用途への対応が可能となりました。
共通の特長は、次のような多用途対応なシステムとなっています。
・大塚電子の高感度マルチチャンネル分光器の採用により、広タ'イナミックレンジ測定が可能
・補助電球を設置した積分球を使用し、自己吸収を補正
・測定部(積分球または積分半球)のサイズは、用途に応じてφ250mmからφ3000mmまでを品揃え
・紫外対応コーテインク'の積分球を使用することで、紫外光源の分光放射束の測定が可能(φ135mm積分球)
・L-I-V測定、パルス点灯測定、サンプル温調測定に対応可能(オプション)
・パルス幅変調(PWM)調光に対応
・電源条件、温調条件を自由に組み合わせて自動測定が可能
・全光束標準電球の供給が可能(JCSS)
さらに、HMシリーズを使用して頂きますと、、
・光源の点灯姿勢が変更できるため、実使用条件下での測定が可能。温調機能付き全光束測定が簡単に実現可能
・発光部以外を積分空間外に排除、吸収誤差を解消
・用途に応じたサンプル取付け用アタッチメン卜に対応することが可能
・面発光光源の全光東測定に最適
・サンプル点灯切替用セレクタにより、サンプルの点灯を自動かつ高速に切り替えて測定が可能 (LED寿命試験に対応)
・温調機能付き全光束測定が可能
などの特長を生かし、さまざまな測定環境下での全光束測定が容易に実現化可能となります。
カテゴリ メーカ名 分野
-
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム(ELSZ-2000 シリーズ)
-
濃厚系~希薄系の幅広い濃度範囲でゼータ電位、粒子径、分子量を光散乱法で測定。コロイドの分散凝集性,相互作用,表面改質の評価に最適です。
"8つの特長"プラス"1つの特長"を持つELSZ-2000シリーズを是非ともお試しください。
(1)最新型高感度APDの採用、感度アップと時間短縮を実現しました。
(2)自動温度グラジエント測定により変性・相転移温度解析が可能です。
(3)内蔵された温調素子で0~90℃の範囲で測定がおこなえます。
(4)広範囲な分子量測定および解析が可能となりました。
(5)懸濁した高濃度サンプルの粒子径・ゼータ電位測定に対応した散乱光学系を採用しました。
(6)セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定がおこなえます。
(7)高塩濃度溶液のゼータ電位測定に対応した標準セルユニット採用しております。
(8)平板状の表面電位測定可能な平板用セルユニットに加え、曲面を持つ試料に最適な小面積の平板用セルユニットを追加しました。
(9)簡単操作ソフトウエアで測定・解析がおこなえます。カテゴリ メーカ名 分野
-
顕微分光膜厚計(OPTM series)
-
豊富な膜厚膜質解析の経験ノウハウで、OPTM seriesが提供できる膜厚解析。光干渉法、顕微分光方式の膜厚値、高速フォーカス機能で1点1秒の測定が可能です。
・測定径最小φ5μmサイズでの顕微測光。狙った部位、パターン内の微小測定がおこなえます。
・高性能・高再現性を実現したレンズ・光学系を採用。高精度な絶対反射率測定から解析できる膜厚計です。
・3種類の測定波長範囲から選択できる検出器。極薄膜、色付き試料等の用途に最適な機種選択ができます。
・1ポイント1秒以内の高速膜厚測定を可能にしたオートフォーカス機能を標準装備しています。
・独自の光学系で裏面反射を除去。透明基板を高精度測定することが可能です。
・多層膜等の多様な膜種対応の解析法。しかも、測定・解析も楽々操作の対話形式でおこなえます。
・機種により異なりますが、1nm ~ 92μmの膜厚測定がおこなえます。
・対物レンズの選択によりφ5μm ~φ40μmのスポットで測定可能です。
・目的用途により、ストローク長200x250mmの自動XYステージタイプ、固定フレームタイプの選択が可能です。カテゴリ メーカ名 分野
-
炭素・硫黄分析装置(inductar CS cube)
-
全自動微量窒素分析装置(rapid MICRO N cube)