メーカ
- メーカ一覧
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ア
- 愛知時計電機株式会社
- ITWジャパン 株式会社 ブルックスインスツルメント
- 旭計器工業株式会社
- 株式会社アントンパール・ジャパン
- 飯島電子工業株式会社
- 株式会社上島製作所
- 英弘精機株式会社
- エイスインターナショナルトレード株式会社
- エッペンドルフ・ハイマック・テクノロジーズ株式会社
- エナジーサポート株式会社
- 株式会社エビデント
- MSサイエンティフィック株式会社 受託分析元:武田コロイドテクノ・コンサルティング株式会社
- MSサイエンティフィック株式会社 輸入元:LUM Japan株式会社
- MSサイエンティフィック株式会社 販売元:日本インテグリス株式会社
- 株式会社エムジー
- エレメンター・ジャパン株式会社
- 株式会社エー・アンド・デイ
- 大塚電子株式会社
- 株式会社岡崎製作所
- 株式会社オカムラ
- オリエンタル技研工業株式会社
- ヴァイサラ株式会社
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情報通信 製品一覧
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膜厚モニター(FE-300)
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小型・低価格・簡単操作の膜厚測定装置。光干渉法による解析、オールインワンタイプ、ミリサイズの測定スポット径で、非接触・非破壊測定が可能です。
・最大φ200mm試料の架設可能したサンプルステージを標準装備しました。
・裏面反射除去の光学系を採用したフィルム試料測定専用機を品揃えしています。
・1ポイント0.1秒からの膜厚測定。固定焦点のメリットで高速化を実現しました。
・薄膜・厚膜の試料に合わせて5機種10nm-1.5mmの膜厚範囲(nd)で対応
・多層膜等多様な膜種対応した解析法を内蔵しています。
・膜厚測定範囲(nd)は、3nm ~ 3.5μmの薄膜から厚膜をカバーしています。
・測定スポット径φ3mm(フィルム測定モードの場合: φ1μmスポット)での膜厚値が得られます。
・波長範囲:300 ~ 800nm内で2種類から最適な機種が選べます。カテゴリ メーカ名 分野
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顕微分光膜厚計(OPTM series)
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豊富な膜厚膜質解析の経験ノウハウで、OPTM seriesが提供できる膜厚解析。光干渉法、顕微分光方式の膜厚値、高速フォーカス機能で1点1秒の測定が可能です。
・測定径最小φ5μmサイズでの顕微測光。狙った部位、パターン内の微小測定がおこなえます。
・高性能・高再現性を実現したレンズ・光学系を採用。高精度な絶対反射率測定から解析できる膜厚計です。
・3種類の測定波長範囲から選択できる検出器。極薄膜、色付き試料等の用途に最適な機種選択ができます。
・1ポイント1秒以内の高速膜厚測定を可能にしたオートフォーカス機能を標準装備しています。
・独自の光学系で裏面反射を除去。透明基板を高精度測定することが可能です。
・多層膜等の多様な膜種対応の解析法。しかも、測定・解析も楽々操作の対話形式でおこなえます。
・機種により異なりますが、1nm ~ 92μmの膜厚測定がおこなえます。
・対物レンズの選択によりφ5μm ~φ40μmのスポットで測定可能です。
・目的用途により、ストローク長200x250mmの自動XYステージタイプ、固定フレームタイプの選択が可能です。カテゴリ メーカ名 分野
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超音波式粒度分布計 Zeta-APS
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個数カウント方式粒度分布計Accusizer A7000シリーズ
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自然沈降式分散安定性粒子径分布装置 LUMiReader PSA