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株式会社北浜製作所

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  • OLS5000

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    ■「真の形状を捉える」表面性状測定の決定版
    ■非接触粗さの次世代パラメータ ISO25178、JIS B0681に準拠
    ■非接触で、ナノに迫る高分解能3D観察と高精度測定を実現
    ■前処理不要 簡単操作で、54X 〜17,280X観察が可能です。
    ■再表面検出フィルタにより透明膜の最表面形状測定に対応
    ■非接触粗さの次世代パラメータ ISO25178に準拠
    ■非接触で、ナノに迫る高分解能3D観察と高精度測定を実現
    ■前処理不要 簡単操作で、108X 〜17,280X観察が可能

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  • マルチチャンネル分光器(MCPD-6800 / MCPD-9800)

    大塚電子株式会社

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    ファイバー光学系の"MCPD"マルチチャンネル分光器は、紫外から近赤外のスペクトルをin-situにex-situに測定可能なポリクロメータ分光器システムです。

    MCPDシリーズは、今、2種のシリーズ・9モデルからお選びして頂けます。
    (1)MCPD-6800シリーズは、スペクトル評価のスタンダードのMCPD分光器。透過・反射系の用途に最適な機種です。
    ・電子冷却型フォトダイオードアレイ検出素子を搭載。高S/Nを実現しています。
    ・220nmから1000nmの波長範囲で4タイプの機種を品揃え。目的に合わせた最適な分光器の選択が可能です。
    ・軽量・コンパクトな縦置きタイプ。従来機種に比べ容積比約60%ダウンしました。
    ・16ミリ秒からのサンプリング時間。反射・透過系測定を高速・高精度に測定可能です。
    ・豊富なオプションユニットを追加することで、多彩な測定系を組上げれます。
    ・追加ソフトウエアにより物体色評価、膜厚評価、インライン計測に対応できます。
    ・光学部品・光学機器との組合せで、顕微分光、偏光測定にも対応できます。

    (2)MCPD-9800シリーズは、広ダイナミックレンジ・高感度タイプの分光器。シリーズの最上位機種。発光系の用途に最適です。更に、220~1600nmのブロードバンドな波長をOne Scanで同時測定可能なMCPD-BB仕様を追加しました。
    ・広いダイナミックレンジを有し、全光束測定などの極明~極暗を持つ測定に最適です。
    ・迷光率を1/5に低減(当社従来機種比)により、UV評価や量子効率評価に最適です。
    ・スクランブルファイバー*1の採用(916Cタイプは除く)で、ファイバー由来の誤差を最小化し高再現性を実現しました。
    ・軽量・コンパクトな縦置きタイプ。従来機種に比べ容積比約60%ダウンしました。
    ・最速5ミリ秒からの露光時間。露光時間-受光光量の高い相関。微弱光測定からインラインの高速測定用途にも最適です。
    ・MCPD-BB仕様(ブロードバンドタイプ)を追加。UVからNIR域の広い波長範囲を2種のモデル分光器連結。各分光器の波長分解能で、One Scan測定が可能。仕様等は、お問合せください。

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  • 膜厚モニター(FE-300)

    大塚電子株式会社

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    小型・低価格・簡単操作の膜厚測定装置。光干渉法による解析、オールインワンタイプ、ミリサイズの測定スポット径で、非接触・非破壊測定が可能です。

    ・最大φ200mm試料の架設可能したサンプルステージを標準装備しました。
    ・裏面反射除去の光学系を採用したフィルム試料測定専用機を品揃えしています。
    ・1ポイント0.1秒からの膜厚測定。固定焦点のメリットで高速化を実現しました。
    ・薄膜・厚膜の試料に合わせて5機種10nm-1.5mmの膜厚範囲(nd)で対応
    ・多層膜等多様な膜種対応した解析法を内蔵しています。
    ・膜厚測定範囲(nd)は、3nm ~ 3.5μmの薄膜から厚膜をカバーしています。
    ・測定スポット径φ3mm(フィルム測定モードの場合: φ1μmスポット)での膜厚値が得られます。
    ・波長範囲:300 ~ 800nm内で2種類から最適な機種が選べます。

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  • ダイナミック光散乱光度計(DLS-8000)

    大塚電子株式会社

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    高分子・コロイド全般を対象に、“ゴニオメータ光学系”+”液浸バス”仕様の本格的光散乱光度計です。動的光散乱法による粒子径解析、静的光散乱法による分子量解析に最適です。

    測定角度を選べるゴニオメータ機構と屈折率差を除去する液浸バスから高精度に観測される散乱現象の情報から、
    (1) 動的光散乱法では、粒子などの粒子径、併進拡散係数や流体力学的半径Rh。
    (2) 静的光散乱法では、高分子希薄溶液の分子量(重量平均分子量)、慣性半径<Rg2>1/2(分子の広がり)や第二ビリアル係数A2(溶媒と溶質との相互作用のパラメータ)が溶液物性値として得ることができます。
    また、目的用途に最適なシステムの選択が可能です。例えば、
    (1) He-Neレーザーを搭載した標準タイプのほか、固体レーザーのダブルレーザー仕様タイプ(数ナノメーターオーダの超微粒子の粒子径を高精度に測定可能)
    (2) 160℃の温度下での測定を可能にした高温仕様タイプ(高温・高圧での高分子の特性解析を可能)など。その他、静的光散乱法による分子量解析に必要な示差屈折計(DRM-3000)も準備しております。

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  • ゼータ電位・粒径・分子量測定システム(ELSZ-2000 シリーズ)

    大塚電子株式会社

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    濃厚系~希薄系の幅広い濃度範囲でゼータ電位、粒子径、分子量を光散乱法で測定。コロイドの分散凝集性,相互作用,表面改質の評価に最適です。

    "8つの特長"プラス"1つの特長"を持つELSZ-2000シリーズを是非ともお試しください。
    (1)最新型高感度APDの採用、感度アップと時間短縮を実現しました。
    (2)自動温度グラジエント測定により変性・相転移温度解析が可能です。
    (3)内蔵された温調素子で0~90℃の範囲で測定がおこなえます。
    (4)広範囲な分子量測定および解析が可能となりました。
    (5)懸濁した高濃度サンプルの粒子径・ゼータ電位測定に対応した散乱光学系を採用しました。
    (6)セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定がおこなえます。
    (7)高塩濃度溶液のゼータ電位測定に対応した標準セルユニット採用しております。
    (8)平板状の表面電位測定可能な平板用セルユニットに加え、曲面を持つ試料に最適な小面積の平板用セルユニットを追加しました。
    (9)簡単操作ソフトウエアで測定・解析がおこなえます。

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